Подарите скидку 10%
Посоветуйте эту книгу и получите 39,21 ₽ с покупки её другом.
Основной контент книги Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
текстPDFОбъем 94 страницы
2006 год
Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
399 ₽
392 ₽
О книге
В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций.
Войдите, чтобы оценить книгу и оставить отзыв
Книга Владимира Бублика, Андрея Мильвидского «Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия» — читать онлайн на сайте. Оставляйте комментарии и отзывы, голосуйте за понравившиеся.
Возрастное ограничение:
0+Дата выхода на Литрес:
28 марта 2018Дата написания:
2006Объем:
94 стр. Общий размер:
8.8 МБОбщее кол-во страниц:
94Правообладатель:
МИСиС
